안드로이드 커널 모듈 취약점 탐지를 위한 자동화된 유닛 테스트 생성 기법 


44권  2호, pp. 171-178, 2월  2017


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  요약

본 논문에서는 안드로이드 커널 모듈의 취약점을 탐지하기 위한 자동 유닛 테스트 생성 기법을 제안한다. 안드로이드 커널 모듈의 각 함수를 대상으로 테스트 드라이버/스텁 함수를 자동 생성하고 동적 기호 실행 기법을 사용하여 테스트 입력 값을 자동으로 생성한다. 또한 안드로이드 커널 모듈의 함수 포인터와 함수 선행 조건을 고려하지 않은 테스트 생성으로 인한 거짓 경보를 줄이기 위해 정적 분석을 통한 함수 포인터 매칭 기법과 def-use 분석을 사용한 함수 선행 조건 생성 기법을 개발하였다. 자동 유닛 테스트 생성 기법을 안드로이드 커널 3.4 버전의 세 모듈에 적용한 결과 기존에 존재하던 취약점을 모두 탐지할 수 있었으며 제안한 거짓 경보 감소 기법으로 평균 44.9%의 거짓 경보를 제거할 수 있었다.


  통계
2022년 11월부터 누적 집계
동일한 세션일 때 여러 번 접속해도 한 번만 카운트됩니다. 그래프 위에 마우스를 올리면 자세한 수치를 확인하실 수 있습니다.


  논문 참조

[IEEE Style]

Y. Kim and M. Kim, "Automated Unit-test Generation for Detecting Vulnerabilities of Android Kernel Modules," Journal of KIISE, JOK, vol. 44, no. 2, pp. 171-178, 2017. DOI: .


[ACM Style]

Yunho Kim and Moonzoo Kim. 2017. Automated Unit-test Generation for Detecting Vulnerabilities of Android Kernel Modules. Journal of KIISE, JOK, 44, 2, (2017), 171-178. DOI: .


[KCI Style]

김윤호, 김문주, "안드로이드 커널 모듈 취약점 탐지를 위한 자동화된 유닛 테스트 생성 기법," 한국정보과학회 논문지, 제44권, 제2호, 171~178쪽, 2017. DOI: .


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