안드로이드 커널 모듈 취약점 탐지를 위한 자동화된 유닛 테스트 생성 기법
44권 2호, pp. 171-178, 2월 2017
요약
통계
2022년 11월부터 누적 집계
동일한 세션일 때 여러 번 접속해도 한 번만 카운트됩니다. 그래프 위에 마우스를 올리면 자세한 수치를 확인하실 수 있습니다.
동일한 세션일 때 여러 번 접속해도 한 번만 카운트됩니다. 그래프 위에 마우스를 올리면 자세한 수치를 확인하실 수 있습니다.
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논문 참조
[IEEE Style]
Y. Kim and M. Kim, "Automated Unit-test Generation for Detecting Vulnerabilities of Android Kernel Modules," Journal of KIISE, JOK, vol. 44, no. 2, pp. 171-178, 2017. DOI: .
[ACM Style]
Yunho Kim and Moonzoo Kim. 2017. Automated Unit-test Generation for Detecting Vulnerabilities of Android Kernel Modules. Journal of KIISE, JOK, 44, 2, (2017), 171-178. DOI: .
[KCI Style]
김윤호, 김문주, "안드로이드 커널 모듈 취약점 탐지를 위한 자동화된 유닛 테스트 생성 기법," 한국정보과학회 논문지, 제44권, 제2호, 171~178쪽, 2017. DOI: .
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